設備・施設

設備・施設

鈴鹿高専

透過電子顕微鏡日立ハイテク H-9000高分解能電子顕微鏡像の撮影および電子線回折による結晶構造解析に使用
集束イオンビーム電子ビーム加工観察装置日立ハイテク NB5000走査電子顕微鏡観察面のナノスケール加工、組成分析、結晶方位解析に使用
電界放出形走査電子顕微鏡日立ハイテク S-4300走査電子顕微鏡像の撮影および組成分析、結晶方位解析に使用
走査電子顕微鏡日立ハイテク TM-1000素材の低真空走査電子顕微鏡観察および組成分析に使用
X線光電子分光分析装置アルバック・ファイ PHI-5450 LC素材の最表面を構成する元素の種類や化学結合状態の分析に使用
走査型蛍光X線分析装置リガク ZSX PrimusⅣ固体(塊・粉末)、液体素材を構成する元素の種類と濃度の分析に使用
X線回折装置日本分光 NRS-3300素材の最表面を構成する分子構造の分析に使用
原子吸光分光光度計島津製作所 AA-6200溶液中の元素濃度の分析に使用
フーリエ変換赤外分光装置日本分光 FT/IR-6100素材の最表面を構成する分子構造の分析に使用
フーリエ変換赤外分光装置日本分光 FT/IR-4200素材の最表面を構成する分子構造の分析に使用
熱分析装置リガク Thermo plus EVO2 ステーション素材の熱的物性変化の分析に使用
アークプラズマ法ナノ粒子形成装置アドバンス理工 APD-Sアークプラズマによりナノ粒子の蒸着やナノスケール層の成膜に使用
接触角計協和界面化学 DMo-501素材の濡れ性や付着仕事の評価に使用
多機能走査型X線光電子分光分析装置(導入予定)アルバック・ファイ PHI 5000 VersaProbe Ⅲ)素材の最表面を構成する元素の種類や化学結合状態の分析に使用
高精度ガス/蒸気吸着量測定装置(導入予定)マイクロトラック・ベル BELSORP MAX Ⅱ素材の比表面積、細孔分布、蒸気吸着量、化学吸着量の分析に使用

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